{"id":4701,"date":"2026-02-02T21:39:18","date_gmt":"2026-02-02T20:39:18","guid":{"rendered":"https:\/\/mdc.auto-planning.info\/faq\/"},"modified":"2026-08-13T13:12:03","modified_gmt":"2026-08-13T11:12:03","slug":"faq","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/mdc.auto-planning.info\/fr\/faq\/","title":{"rendered":"FAQ"},"content":{"rendered":"\t\t
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FAQ - MDC Europe<\/h1><\/div><\/div>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Sonde \u00e0 quatre pointes automatique<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Pourquoi utiliser les sondes de cartographie automatiques AIT ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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Les s\u00e9ries de cartographie automatique CMT sont des syst\u00e8mes enti\u00e8rement automatiques pour mesurer la r\u00e9sistance de feuille et la r\u00e9sistivit\u00e9 avec contr\u00f4le PC \u00e0 distance ou en mode manuel. Les configurations PC typiques sont Windows 7 \/ 32 bits. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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Quelle s\u00e9rie de cartographie automatique dois-je utiliser ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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Selon l\u2019application, la taille et la forme de l\u2019\u00e9chantillon, les s\u00e9ries suivantes sont disponibles :<\/span><\/p>

  • CMT-100S pour les wafers jusqu\u2019\u00e0 180 mm ou les carr\u00e9s jusqu\u2019\u00e0 160 mm<\/span><\/li>
  • CMT-2000N pour les wafers jusqu\u2019\u00e0 200 mm<\/span><\/li>
  • CMT-2000PV pour les wafers jusqu\u2019\u00e0 230 mm ou les carr\u00e9s jusqu\u2019\u00e0 156 mm<\/span><\/li>
  • CMT-3000 pour le verre, les \u00e9crans LCD, les panneaux ITO jusqu\u2019\u00e0 600 x 720 mm<\/span><\/li>
  • CMT-5000 pour les wafers jusqu\u2019\u00e0 450 mm ou les carr\u00e9s jusqu\u2019\u00e0 300 mm<\/span><\/li><\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t
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    Quelle est la r\u00e9solution de position xyz ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    La r\u00e9solution xyz est de +\/- 1 mm.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

    \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
    Quelle est la pr\u00e9cision de mesure ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    La pr\u00e9cision du syst\u00e8me de 0,5 % est bas\u00e9e sur un r\u00e9sultat de test avec une r\u00e9sistance de r\u00e9seau de pr\u00e9cision. La pr\u00e9cision r\u00e9elle du syst\u00e8me est limit\u00e9e par la r\u00e9f\u00e9rence utilis\u00e9e. Par exemple, une valeur de r\u00e9f\u00e9rence VLSI certifi\u00e9e a une tol\u00e9rance d\u2019erreur de 1,5 %. La pr\u00e9cision de mesure r\u00e9elle d\u00e9pend de divers facteurs, notamment l\u2019environnement, les conditions de contact et la t\u00eate de sonde, la surface du wafer, etc. Par exemple, la pr\u00e9cision typique peut inclure des tol\u00e9rances suppl\u00e9mentaires pour l\u2019usure de la sonde et la r\u00e9p\u00e9tabilit\u00e9. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Quelles sont les exigences minimales pour le PC distant ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    PC compatible avec les versions Windows 10\/11.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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    Quelles interfaces PC distantes sont disponibles ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    L\u2019interface distante standard est la communication s\u00e9rie RS232. Un convertisseur USB peut \u00e9galement \u00eatre utilis\u00e9. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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    Sonde \u00e0 quatre pointes manuelle<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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    Pourquoi utiliser les sondes Jandel ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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    Les sondes Jandel offrent la pr\u00e9cision et la perfection de plus de 30 ans d\u2019exp\u00e9rience. Les rayons des pointes et les espacements des sondes sont v\u00e9rifi\u00e9s par interf\u00e9rom\u00e8tre et inspection vid\u00e9o pour garantir la pr\u00e9cision. Les charges de ressort sont v\u00e9rifi\u00e9es par jauge de force \u00e9lectronique. Les sp\u00e9cifications standard uniques incluent : <\/span><\/p>

    1. Les guides sup\u00e9rieurs et inf\u00e9rieurs sont sertis de joyaux<\/span><\/li>
    2. Aiguilles en carbure de tungst\u00e8ne massif pour une durabilit\u00e9 et une pr\u00e9cision sup\u00e9rieures<\/span><\/li>
    3. Isolation en T\u00e9flon offrant une fuite minimale<\/span><\/li><\/ol>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t
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      Quel mod\u00e8le de sonde dois-je utiliser ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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      La meilleure t\u00eate de sonde pour vous d\u00e9pend enti\u00e8rement de votre application et de l\u2019\u00e9quipement que vous utilisez. Contactez-nous avec les d\u00e9tails de la sonde que vous poss\u00e9dez actuellement et nous vous indiquerons la meilleure sonde pour vous. Alternativement, si vous souhaitez cr\u00e9er une configuration personnalis\u00e9e, nous pouvons vous aider \u00e0 identifier la sonde qui fonctionnera le mieux. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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      Quelles caract\u00e9ristiques dois-je utiliser ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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      Les caract\u00e9ristiques n\u00e9cessaires varient en fonction du mat\u00e9riau sond\u00e9. Si vous nous contactez, nous pourrons peut-\u00eatre vous conseiller les meilleures caract\u00e9ristiques pour vos \u00e9chantillons gr\u00e2ce \u00e0 notre exp\u00e9rience pass\u00e9e. Alternativement, une fois la commande pass\u00e9e, vous avez la possibilit\u00e9 de nous envoyer un \u00e9chantillon typique du mat\u00e9riau que vous souhaitez sonder et nous le testerons afin que vous soyez s\u00fbr de recevoir les meilleures caract\u00e9ristiques pour votre application. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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      Que sont les \u00ab ohms par carr\u00e9 \u00bb ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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      L’unit\u00e9 de mesure utilis\u00e9e pour mesurer la r\u00e9sistance d’un film mince d’un mat\u00e9riau selon la technique de sonde \u00e0 quatre pointes. Elle est \u00e9gale \u00e0 la r\u00e9sistance entre deux \u00e9lectrodes situ\u00e9es sur les c\u00f4t\u00e9s oppos\u00e9s d’un carr\u00e9 th\u00e9orique. La taille du carr\u00e9 n’a pas d’importance et la mesure s’exprime donc strictement en ohms, mais ohms\/carr\u00e9 permet de distinguer la mesure d’une feuille mince de la mesure d’un fil, par exemple. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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      Que sont les \u00ab ohms-centim\u00e8tre \u00bb ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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      L’unit\u00e9 de mesure utilis\u00e9e pour mesurer la r\u00e9sistivit\u00e9 volumique ou en volume de mat\u00e9riaux \u00e9pais ou homog\u00e8nes tels que les wafers de silicium nus ou les lingots de silicium, selon la technique de sonde \u00e0 quatre pointes.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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      Comment convertir les ohms par carr\u00e9 en ohms-centim\u00e8tre ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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      Le terme Ohms.cm (Ohms centim\u00e8tre) fait r\u00e9f\u00e9rence \u00e0 la mesure de la r\u00e9sistivit\u00e9 \u00ab volumique \u00bb ou \u00ab en volume \u00bb d’un mat\u00e9riau semi-conducteur. Les Ohms.cm sont utilis\u00e9s pour mesurer la conductivit\u00e9 d’un mat\u00e9riau tridimensionnel tel qu’un lingot de silicium ou une couche \u00e9paisse d’un mat\u00e9riau. Le terme \u00ab Ohms par carr\u00e9 \u00bb est utilis\u00e9 pour mesurer la r\u00e9sistance de feuille, c’est-\u00e0-dire la valeur de r\u00e9sistance d’une couche mince d’un mat\u00e9riau semi-conducteur. Les \u00e9quations de calcul de la r\u00e9sistivit\u00e9 volumique diff\u00e8rent de celles utilis\u00e9es pour calculer la r\u00e9sistance de feuille. Toutefois, si la r\u00e9sistance de feuille est connue, la r\u00e9sistivit\u00e9 volumique peut \u00eatre calcul\u00e9e en multipliant la r\u00e9sistance de feuille en Ohms par carr\u00e9 par l’\u00e9paisseur du mat\u00e9riau en centim\u00e8tres. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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      Syst\u00e8me d\u2019analyse CV\/IV<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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      Pourquoi utiliser une sonde \u00e0 mercure ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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      Pour effectuer une caract\u00e9risation \u00e9lectrique rapide et non destructive de semi-conducteurs planaires non m\u00e9tallis\u00e9s : SiC, GaAs, 2DEG, GaN, InP, CdS, InSb, etc. Pour remplacer des m\u00e9thodes alternatives qui prennent plusieurs heures et n\u00e9cessitent une m\u00e9tallisation d\u00e9taill\u00e9e \u2014 caract\u00e9risation de couches \u00e9pitaxiales minces d\u00e9pos\u00e9es sur silicium, outil de criblage pour la caract\u00e9risation de films minces permettant d’effectuer des tests d’int\u00e9grit\u00e9 rapides sur diverses surfaces de substrat. Les sondes \u00e0 mercure peuvent \u00eatre connect\u00e9es \u00e0 des traceurs C-V, des traceurs de courbes, des profileurs de dopage, des syst\u00e8mes informatis\u00e9s de mesure de semi-conducteurs, CSM-WIN. La r\u00e9sistance peut \u00eatre mesur\u00e9e sur des films minces compos\u00e9s de tout mat\u00e9riau qui ne r\u00e9agit pas avec le mercure. Les m\u00e9taux, semi-conducteurs, oxydes et rev\u00eatements chimiques peuvent \u00eatre mesur\u00e9s avec succ\u00e8s. Les sondes \u00e0 mercure peuvent mesurer des wafers de silicium oxyd\u00e9s ou des wafers de silicium nus. Pour les dispositifs MOS, une chambre noire est disponible pour \u00e9viter les interf\u00e9rences lumineuses. <\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

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      Qu\u2019en est-il de la s\u00e9curit\u00e9 ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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      Une sonde \u00e0 mercure peut \u00eatre utilis\u00e9e en toute s\u00e9curit\u00e9 dans un environnement de laboratoire ou de production habituel. Les mesures sur la plateforme ont confirm\u00e9 une concentration de mercure inf\u00e9rieure \u00e0 la norme de 0,05 mg\/m\u00b3. Les zones entourant les conteneurs de stockage de mercure peuvent avoir une concentration de mercure sup\u00e9rieure \u00e0 la norme, une bonne ventilation est donc recommand\u00e9e pour le stockage et le remplacement. La sonde \u00e0 mercure offre les caract\u00e9ristiques de s\u00e9curit\u00e9 inh\u00e9rentes suivantes : <\/span><\/p>

      1. Aucun mercure n\u2019est appliqu\u00e9 sans wafer charg\u00e9<\/span><\/li>
      2. Le passage automatique en position PURGE assure l\u2019\u00e9limination du Hg sur la plateforme<\/span><\/li>
      3. Une option de bo\u00eete noire est disponible pour contenir les gouttelettes de mercure potentielles dans une zone confin\u00e9e<\/span><\/li>
      4. Le syst\u00e8me de sonde \u00e0 mercure \u00e9limine l\u2019exposition \u00e0 l\u2019air du mercure en position ARR\u00caT<\/span><\/li>
      5. Un kit de d\u00e9versement de mercure est disponible<\/span><\/li>
      6. Une option de filtre \u00e0 vapeur est disponible<\/span><\/li><\/ol>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t
        \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
        Quelle assistance \u00e0 l\u2019installation est fournie ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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        \n\t\t\t\t
        \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

        Le syst\u00e8me est livr\u00e9 avec un ensemble complet de manuels et de logiciels.<\/span><\/p>

        • Programmes pour configurer et \u00e9talonner le capacim\u00e8tre<\/span><\/li>
        • Utilitaires pour calibrer la zone de contact et la capacit\u00e9 parasite<\/span><\/li>
        • Utilitaires pour les param\u00e8tres et le fonctionnement du syst\u00e8me<\/span><\/li><\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t
          \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
          Quels outils de support utilisateur sont disponibles ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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          \n\t\t\t\t
          \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

          Une fonction d\u2019AIDE compl\u00e8te \u00e0 l\u2019\u00e9cran fournit des informations sp\u00e9cifiques sur toutes les fonctions du programme, des suggestions de mesure, des informations techniques et des r\u00e9f\u00e9rences.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

          \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
          Pourquoi utiliser les syst\u00e8mes C-V ou I-V ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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          \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

          Les syst\u00e8mes C-V et I-V de MDC offrent une couverture compl\u00e8te des caract\u00e9risations C-V et\/ou I-V gr\u00e2ce \u00e0 une vari\u00e9t\u00e9 de sondes, d\u2019\u00e9quipements de test et de logiciels de contr\u00f4le PC (CSM\/Win). Les raisons sp\u00e9cifiques incluent : un fonctionnement par menus, la possibilit\u00e9 de sauvegarder et de modifier les recettes de test, la possibilit\u00e9 de stocker et de rappeler des ensembles de donn\u00e9es complets dans tous les programmes, le stockage de r\u00e9sum\u00e9s de donn\u00e9es dans les programmes de production, des rapports complets sur un seul \u00e9cran des r\u00e9sultats de test, le tra\u00e7age superpos\u00e9 de plusieurs ensembles de donn\u00e9es, la v\u00e9rification des limites des r\u00e9sultats de test, la correction de la r\u00e9sistance s\u00e9rie, la compensation de temp\u00e9rature de toutes les mesures. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

          \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
          Quelles fonctions sont disponibles avec les configurations C-V et I-V de MDC ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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          Mesures C-V de production MOS avec ou sans contrainte de temp\u00e9rature de polarisation avec correction des effets de r\u00e9sistance s\u00e9rie. TESTS D’ING\u00c9NIERIE MOS : trac\u00e9 C-V et Conductance-Tension MOS, g\u00e9n\u00e9ration de courbe C-V MOS th\u00e9orique et calcul Dit, mesures Capacit\u00e9-Temps (analyse Zerbst), profilage de dopage des r\u00e9gions sous-oxyde, analyse d’oxyde mince selon la m\u00e9thode Ricco, effets quantiques et d\u00e9pl\u00e9tion du polysilicium. TESTS DE JONCTION : acquisition de donn\u00e9es C-V adaptative pour les profils de dopage et de r\u00e9sistivit\u00e9, r\u00e9sistance s\u00e9rie de jonction et potentiel int\u00e9gr\u00e9. TESTS C-V \u00c0 FR\u00c9QUENCE VARIABLE. TESTS C-V \u00c0 FR\u00c9QUENCES MULTIPLES. TEST QUASI-STATIQUE \/ Dit. TESTS GOI (d\u00e9pendant du mat\u00e9riel) : int\u00e9grit\u00e9 de l’oxyde de grille utilisant des sources de tension et de courant forc\u00e9es, en rampe ou puls\u00e9es, histogrammes, trac\u00e9s TDDB, trac\u00e9s de Weibull. TESTS I-V : caract\u00e9ristiques courant-tension des structures de jonction et MIS et tests de claquage d’oxyde. PROGRAMMES POUR OXYDE MINCE : acquisition de donn\u00e9es par d\u00e9calage de fr\u00e9quence. Fonctions d’analyse CVC pour les effets quantiques et les effets de d\u00e9pl\u00e9tion du polysilicium. <\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

          \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
          Comment les configurations mat\u00e9rielles et logicielles sont-elles d\u00e9termin\u00e9es ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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          \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

          Selon les besoins de caract\u00e9risation, diverses combinaisons avec des \u00e9quipements Keysight Technologies ou Keithley ainsi que des sondes et logiciels MDC peuvent \u00eatre configur\u00e9es selon des sp\u00e9cifications personnalis\u00e9es.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

          \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
          Quelle assistance \u00e0 l\u2019installation est fournie ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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          (Sp\u00e9cifique C-V\/I-V)<\/span><\/i> Le syst\u00e8me est livr\u00e9 avec un ensemble complet de manuels et de logiciels. Le logiciel SYSTEM SETUP comprend : des programmes pour configurer et \u00e9talonner le capacim\u00e8tre, des utilitaires pour choisir les param\u00e8tres du syst\u00e8me tels que la temp\u00e9rature par d\u00e9faut et les param\u00e8tres des mat\u00e9riaux, des utilitaires pour v\u00e9rifier le fonctionnement du syst\u00e8me.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t\t

          \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t
          Quels outils de support utilisateur sont disponibles ? <\/div><\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t\t<\/path><\/svg><\/span>\n\t\t<\/span>\n\n\t\t\t\t\t\t<\/summary>\n\t\t\t\t
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          (Sp\u00e9cifique C-V\/I-V)<\/span><\/i> Une fonction d\u2019AIDE compl\u00e8te \u00e0 l\u2019\u00e9cran fournit des informations sp\u00e9cifiques sur toutes les fonctions du programme, des suggestions de mesure, des informations techniques et des r\u00e9f\u00e9rences.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/details>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

          FAQ – MDC Europe Sonde \u00e0 quatre pointes automatique Pourquoi utiliser les sondes de cartographie automatiques AIT ? Les s\u00e9ries de cartographie automatique CMT sont des syst\u00e8mes enti\u00e8rement automatiques pour mesurer la r\u00e9sistance de feuille et la r\u00e9sistivit\u00e9 avec contr\u00f4le PC \u00e0 distance ou en mode manuel. Les configurations PC typiques sont Windows 7 \/ […]<\/p>\n","protected":false},"author":2,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"site-sidebar-layout":"no-sidebar","site-content-layout":"page-builder","ast-site-content-layout":"full-width-container","site-content-style":"unboxed","site-sidebar-style":"unboxed","ast-global-header-display":"","ast-banner-title-visibility":"","ast-main-header-display":"","ast-hfb-above-header-display":"","ast-hfb-below-header-display":"","ast-hfb-mobile-header-display":"","site-post-title":"disabled","ast-breadcrumbs-content":"","ast-featured-img":"disabled","footer-sml-layout":"","ast-disable-related-posts":"","theme-transparent-header-meta":"enabled","adv-header-id-meta":"","stick-header-meta":"","header-above-stick-meta":"","header-main-stick-meta":"","header-below-stick-meta":"","astra-migrate-meta-layouts":"default","ast-page-background-enabled":"default","ast-page-background-meta":{"desktop":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center 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