Composants d’étalonnage
Composants d’étalonnage pour la mesure des semi-conducteurs et la vérification des procédés
Les wafers de référence d’étalonnage sont utilisés pour vérifier et maintenir la précision des mesures dans les systèmes de métrologie des semi-conducteurs. Ils fournissent des valeurs de référence certifiées pour la résistivité, l’épaisseur d’oxyde et la validation des paramètres de procédé sur des plateformes de sonde à quatre pointes, de CV/IV et d’ellipsométrie.
MDC Europe fournit des wafers de référence certifiés configurés pour une utilisation avec des équipements de mesure des semi-conducteurs, en prenant en charge l’étalonnage des outils, la vérification périodique et la traçabilité métrologique des mesures en environnements de production et de R&D.
Rôle des composants d’étalonnage
Dans les flux de travail de mesure des semi-conducteurs, les wafers de référence d’étalonnage sont sélectionnés en fonction de :
- paramètre de mesure (résistivité, épaisseur d’oxyde…)
- compatibilité avec la plateforme de mesure
- niveau de certification et exigences de traçabilité
Portefeuille de composants d’étalonnage
MDC Europe fournit des wafers de référence certifiés, notamment :
- RW-10 — Wafer de référence MDC
- WS-RES — Wafer de référence de résistivité
- WS-TOX — Wafer de référence d’oxyde
Capacités de MDC Europe
MDC Europe accompagne la sélection des composants d’étalonnage en adéquation avec les exigences des équipements de mesure des semi-conducteurs, en garantissant la traçabilité métrologique des mesures et la fiabilité du contrôle des procédés.
Pourquoi choisir nos produits ?
- Reconditionnement de niveau OEM répondant aux spécifications d’origine
- Plus de 30 ans d’expérience dans les solutions pour semi-conducteurs
- Livraison et assistance rapides en Europe
- Portefeuille de produits complet, des pièces de rechange aux systèmes
- Approuvé par les principaux OEM et instituts de recherche